高速PCB設(shè)計(jì)中要想驗(yàn)證產(chǎn)品的EMC特性，只有把產(chǎn)品拿到標(biāo)準(zhǔn)電磁兼容測量室去測量，由于這種測量只能測產(chǎn)品對外輻射情況，就算沒有通過也不能為解決問題提供有用的信息，因此工程師只能憑經(jīng)驗(yàn)去修改PCB，并重復(fù)試驗(yàn)。這種試驗(yàn)方法非常昂貴，而且可能耽誤產(chǎn)品的上市時(shí)間。

　　目前大部分硬件工程師還只是憑經(jīng)驗(yàn)來設(shè)計(jì)PCB，在調(diào)試過程中，很多需要觀測的信號(hào)線或者芯片引腳被埋在PCB中間層，無法使用示波器等工具去探測，如果產(chǎn)品不能通過功能測試，他們也沒有有效的手段去查找問題的原因。

　　當(dāng)然，現(xiàn)在有很多高速PCB分析和仿真PCB設(shè)計(jì)工具，幫助工程師解決一些問題，可是目前在器件模型上還存在很多限制，例如能解決信號(hào)完整性（SI）仿真的IBIS模型就有很多器件沒有模型或者模型不準(zhǔn)確。要仿真EMC問題，就必須用SPICE模型，但目前幾乎所有的ASIC都不能提供SPICE模型，而如果沒有SPICE模型，EMC仿真是無法把器件本身的輻射考慮在內(nèi)的（器件的輻射比傳輸線的輻射大得多）。另外，仿真工具往往要在精度和仿真時(shí)間上進(jìn)行折中，精度相對較高的，需要的計(jì)算時(shí)間很長，而仿真速度快的工具，其精度又很低。因此用這些工具進(jìn)行仿真，不能完*高速PCB設(shè)計(jì)中的相互干擾問題。

　　我們知道，在多層PCB中高頻信號(hào)的回流路徑應(yīng)該在該信號(hào)線層臨近的參考地平面（電源層或者地層）上，這樣的回流和阻抗小，但是實(shí)際的地層或電源層中會(huì)有分割和鏤空，從而改變回流路徑，導(dǎo)致回流面積變大，引起電磁輻射和地彈噪聲。如果工程師能清楚電流路徑的話，就能避免大的回流路徑，從而有效控制電磁輻射。但信號(hào)回流路徑由信號(hào)線布線、PCB電源和地分布結(jié)構(gòu)以及電源供電點(diǎn)、去耦電容和器件放置位置和數(shù)量等多種因素所決定，故而對復(fù)雜系統(tǒng)的回流路徑從理論上進(jìn)行判定非常困難。

　　所以在PCB設(shè)計(jì)階段排除輻射噪聲問題非常關(guān)鍵。我們用示波器能看到信號(hào)的波形，從而可幫助解決信號(hào)完整性問題，那么有沒有設(shè)備能看到輻射的“圖形”以及電路板上的回流呢?

　　電磁場高速掃描測量技術(shù)

　　在各種電磁輻射檢測儀測量方法中，有一種近場掃描測量方法能解決這個(gè)問題，該方法基于這樣的原理PCB設(shè)計(jì)，即電磁輻射是被測設(shè)備（DUT）上的高頻電流回路形成的。如加拿大EMSCAN公司的電磁輻射掃描系統(tǒng)Emscan就是根據(jù)這個(gè)原理制成的，它采用H場陣列探頭（有32×40=1280個(gè)探頭）來探測DUT上的電流，在測量期間，DUT直接放在掃描器的上面。這些探頭檢測由于高頻電流發(fā)生變化而引起的電磁場的變化，系統(tǒng)可提供RF電流在PCB上空間分布的視覺圖像。